Shinichi NAGAI 長井 真一

1991年に特許庁に入庁以来、審査官として、応用物理、計測、分析診断を担当する審査室に在籍し、計測・分析機器、原子力・核融合、半導体リソグラフィ、ナノテクノロジー、ディプレイ制御、医学診断装置、画像診断装置等に関する技術の特許審査に従事。2017年、知的財産高等裁判所に出向し、裁判所調査官として、機械分野を中心に特許権侵害訴訟控訴事件、審決取消訴訟に関する調査業務を経験した後、2020年より、審判長として、5部門（自然資源・住環境）に在籍し、家具・建具、土木、建機、農業等の分野、2部門（材料分析）に在籍し、検査装置、免疫学的検査等の分野の審判業務に従事し、2025年、電子ゲーム、遊技機（パチスロ等）を担当する4部門（アミューズメント）の部門長を最後に退官。その間、コンピュータソフトウエア関連発明の審査基準の改訂、弁理士試験委員（特許・実用新案）、審判実務者研究会（特許機械）総括、審判官コース研修や訟務・応用実務研修の講師を担当する等、特許法、審査・審判実務、訟務に精通する。また、米国ワシントン大学客員研究員としての活動、WIPO一般総会や日米欧特許庁会合、日米欧審査官会合に参加する等、国際経験も豊富。