メインコンテンツに移動
Language

長井 真一 長井 真一 Shinichi NAGAI

長井 真一
長井 真一

Shinichi NAGAI 長井 真一

  • オブカウンセル
  • 東京

特許庁において審査官、審判官として幅広い技術分野の審査・審判業務を経験することで培った知見と、知的財産高等裁判所において裁判所調査官として特許権侵害訴訟控訴事件や審決取消訴訟に関する調査業務を経験することで培った知見を活かし、様々な技術分野の知財争訟案件に取り組む。

1991年に特許庁に入庁以来、審査官として、応用物理、計測、分析診断を担当する審査室に在籍し、計測・分析機器、原子力・核融合、半導体リソグラフィ、ナノテクノロジー、ディプレイ制御、医学診断装置、画像診断装置等に関する技術の特許審査に従事。2017年、知的財産高等裁判所に出向し、裁判所調査官として、機械分野を中心に特許権侵害訴訟控訴事件、審決取消訴訟に関する調査業務を経験した後、2020年より、審判長として、5部門(自然資源・住環境)に在籍し、家具・建具、土木、建機、農業等の分野、2部門(材料分析)に在籍し、検査装置、免疫学的検査等の分野の審判業務に従事し、2025年、電子ゲーム、遊技機(パチスロ等)を担当する4部門(アミューズメント)の部門長を最後に退官。その間、コンピュータソフトウエア関連発明の審査基準の改訂、弁理士試験委員(特許・実用新案)、審判実務者研究会(特許機械)総括、審判官コース研修や訟務・応用実務研修の講師を担当する等、特許法、審査・審判実務、訟務に精通する。また、米国ワシントン大学客員研究員としての活動、WIPO一般総会や日米欧特許庁会合、日米欧審査官会合に参加する等、国際経験も豊富。

ニュース News

学歴 Education

1989
東京大学工学部 (B.E.)
1991
東京大学大学院工学系研究科 (M.E.)

経歴 Professional Experience

特許庁審査第二部審査官補(応用物理)
審査第二部審査官(応用物理)
国際課国際機関係長
米国ワシントン大学ロー・スクール客員研究員
審査第二部審査官(応用物理(電気計測))
調整課審査基準室長補佐
審査第一部審査官(計測)
調整課審査調査室
審判部審判官(第2部門(材料分析))
平成18年度弁理士試験臨時委員(特許・実用新案)
平成19年度弁理士試験臨時委員(特許・実用新案)
審査第一部上席審査官(材料分析(医学診断))
審査第一部主任上席審査官(ナノ物理)
審査第一部ナノ光学 技術担当室長
審査第一部距離・電気測定 技術担当室長
審査第一部審査監理官(材料分析)
審査第一部審査監理官(分析診断)
審判部審判長(第3部門(アミューズメント))
最高裁判所裁判所調査官(知的財産高等裁判所調査官併任)
審判部審判長(第5部門(自然資源、住環境))
審判部審判長(第2部門(材料分析))
審判部部門長(第4部門(アミューズメント一般))